Varianty padělků elektronických součástek a metody jejich detekce

Abstract

Bakalářská práce pojednává o rizicích spojených s paděláním elektronických součástek a o důsledcích spojených s jejich průnikem na trh. Dále jsou zde naznačeny metody nejčastěji používané pro odhalování padělaných součástek od úplně základních, až po ty, které využívají pokročilých technologií. Jednotlivé postupy jsou rozděleny dle fyzikálního principu, na kterém jsou založeny. V rámci praktické části práce bylo provedeno testování vybraných vzorků součástek metodou porovnávání volt-ampérových charakteristik.