Detekční limity XRF spektrometru pro pevné vzorky
DSpace Repository
- DSpace Home
- Kvalifikační práce dle fakult
- Fakulta technologická
- Ústav inženýrství ochrany živ. prostředí
- Bakalářské práce
- View Item
Language:
English čeština
Detekční limity XRF spektrometru pro pevné vzorky
No preview available
| Title: | Detekční limity XRF spektrometru pro pevné vzorky |
| Author: | Omelková, Martina |
| Advisor: | Bednařík, Vratislav |
| Abstract: | Předmětem této bakalářské práce je stanovení detekčních limitů energeticky disperzního rentgenového fluorescenčního spektrometru ElvaX pro stanovení vybraných prvků v pevných matricích. Detekční limity byly určeny pro 10 prvků v 5 různých matricích. Pro vyhodnocení detekčních limitů byla využita metoda kalibrační křivky, metoda slepého pokusu a vyjádření limitu detekce pomocí limitu slepého pokusu. Také byla zkoušena nová metoda výpočtu limitu detekce, která využívá nejnižší naměřené koncentrace. |
| URI: | http://hdl.handle.net/10563/33198 |
| Date: | 2015-01-20 |
| Availability: | Bez omezení |
| Department: | Ústav inženýrství ochrany životního prostředí |
| Discipline: | Inženýrství ochrany životního prostředí |
| Grade for thesis and defense: | A
|
Citace závěřečné práce
Files in this item
| Files | Size | Format | View |
|---|---|---|---|
| omelková_2015_dp.pdf | 2.573Mb |
View/ |
|
| omelková_2015_vp.docx | 74.24Kb | Microsoft Word 2007 |
View/ |
| omelková_2015_op.doc | 109Kb | Microsoft Word |
View/ |
This item appears in the following Collection(s)
-
Bakalářské práce [213]
