Detekční limity XRF spektrometru pro pevné vzorky
Repozitář DSpace/Manakin
- Domovská stránka DSpace
- Kvalifikační práce dle fakult
- Fakulta technologická
- Ústav inženýrství ochrany živ. prostředí
- Bakalářské práce
- Zobrazit záznam
Jazyk:
English čeština
Detekční limity XRF spektrometru pro pevné vzorky
Není dostupný náhled
| Název: | Detekční limity XRF spektrometru pro pevné vzorky |
| Autor: | Omelková, Martina |
| Vedoucí: | Bednařík, Vratislav |
| Abstrakt: | Předmětem této bakalářské práce je stanovení detekčních limitů energeticky disperzního rentgenového fluorescenčního spektrometru ElvaX pro stanovení vybraných prvků v pevných matricích. Detekční limity byly určeny pro 10 prvků v 5 různých matricích. Pro vyhodnocení detekčních limitů byla využita metoda kalibrační křivky, metoda slepého pokusu a vyjádření limitu detekce pomocí limitu slepého pokusu. Také byla zkoušena nová metoda výpočtu limitu detekce, která využívá nejnižší naměřené koncentrace. |
| URI: | http://hdl.handle.net/10563/33198 |
| Datum: | 2015-01-20 |
| Dostupnost: | Bez omezení |
| Ústav: | Ústav inženýrství ochrany životního prostředí |
| Studijní obor: | Inženýrství ochrany životního prostředí |
| Klasifikace závěřečné práce a její obhajoby: | A
|
Citace závěřečné práce
Soubory tohoto záznamu
| Soubory | Velikost | Formát | Zobrazit |
|---|---|---|---|
| omelková_2015_dp.pdf | 2.573Mb |
Zobrazit/ |
|
| omelková_2015_vp.docx | 74.24Kb | Microsoft Word 2007 |
Zobrazit/ |
| omelková_2015_op.doc | 109Kb | Microsoft Word |
Zobrazit/ |
Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích
-
Bakalářské práce [213]
